ict测试仪，即in circuit test,线路板内路测试仪器，这种设备就是急剧查抄电路板的缺点。在批量消费时选取的设备。

我们所用的ict测试仪的的功能无非是这几种：1、contact测试，即开路测试。

2、short测试，即短路测试。

3、OX/JX测试。即衔接器测试（也可测BGA、IC能否空焊。

4、component测试，即元件测试。元件测试分为resistance（电阻）、电容测试、电感测试。

5、上电测试，即测试IC部门；褂猩章加。

拥有这五种功能的ict测试仪设备，其价值就在500万美圆每台，有前四种功能的ict测试仪器，也能卖到100万每台（就我所理解到的几种测试仪器来看）。再看看它们的测试道理。

contact测试

开路测试，给肯定的电压，到指定的测试点，在另表指定的点上量电压，电压幼于给定值，就说明该点有问题。这种电路不难吧，经典硬件电路网上大把都是。

short测试

短路测试是测试两点之间的电阻，理论和电阻测试一样，[敏感词]将详述。

OX/JX测试

上面一个感应片，[敏感词]的针点给一个AC信号，感应片感应到的信号在某一领域内，超出领域就判断为有问题。

component测试

元件测试更单一，电感可能当零电阻来推算（测试仪器都是这么干的）。给元件一端加电流，另一端测试电压（单一吧、如果想要硬件电路图，我这里有并且正确到0.03%，13642869852&Email:loof_lripa@163.com）。

另表，并联电阻的测试也很奇妙，它是用的运算放大器的虚连、电压相称个性，测试方式如下：

电阻R2两端电压相称，电流为0。所以待测电阻R1的电流就I为所给电流，这样就可能测到电压V，R1的值就为R=V/I。

利用运算放大器终场测试。由“A”点“虚地”的概想有：

∵Ix = Iref # f h. d+ y/ V. e j

∴Rx = Vs/ V0*Rref * F' n- O7 l+ r5 V0 N1 e9 x; m

Vs、Rref别离为激励信号源、仪器推算电阻。丈量出V0，则Rx可求出。 8 e+ a0 G6 y9 A( N; M* g

若待测Rx为电容、电感，则Vs互换信号源，Rx为阻抗方式，同样可求出C或L。 1 _, \ Q F- q" c

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上电测试，即POWER UP测试

上电测试就是测IC的功能，譬喻逻辑器件，就只测真值表。ict测试仪测IC功能有没有问题；褂兴降腷oundery scan测试，即边陲扫描。是给IC的引脚一个时序，在其他的脚上探测信号的测试，是测试IC的衔接问题。听说是测试上很先进的一种方式。

测试道理讲完了，这些道理就是底子的数字仿照信号的利用，想知晓具体参数的可能联系我。另表，就我如今所开发的测试设备的一些学问可能单一的讲一下其硬件机关：

ict测试仪硬件机关重要有两大机关：1、功能板。2、寻址板（寻址即找到指定针点）可能用以下方式：

功能板是用来衔接电脑，产生和丈量电流电压信号，和节造寻址板用，可用FPGA节造。将寻址板所衔接到的针位与产生的信号相衔接，就可能节造到待测板的各个元件了。寻址板也可用FPGA来找到指定针点，如果针点太多128或者256，那就要用到RELAY了。